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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:高溫四探針測(cè)試儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):HGTZ-800系列
  • 產(chǎn)品廠商:華測(cè)
  • 產(chǎn)品價(jià)格:0
  • 折扣價(jià)格:0
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
H-800高溫四探針測(cè)試儀器采用四探針雙電測(cè)量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。高溫四探針測(cè)試儀的測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。
詳情介紹:

高溫四探針測(cè)試儀



一、高溫四探針測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介

       H-800高溫四探針測(cè)試儀器采用四探針雙電測(cè)量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。

       雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,大大提高精度,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

      HGTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的hcpro軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置,符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。


二、高溫四探針測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)

      高速加熱與冷卻方式

      高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng),增設(shè)氣體冷卻裝置,可實(shí)現(xiàn)快速冷卻。
      溫度高精度控制

      過(guò)紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用,可以控制樣品的溫度(遠(yuǎn)比普通加溫方式)。此外,冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。
      不同環(huán)境下的加熱與冷卻加熱/冷卻

      可用真空、氣氛環(huán)境、低溫(高純度惰性氣體,靜態(tài)或流動(dòng)),操作簡(jiǎn)單,使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。


三、高溫四探針測(cè)試儀產(chǎn)品應(yīng)用

多晶硅材料

石墨烯材料

石墨功能材料

半導(dǎo)體材料

導(dǎo)電功能薄膜材料

鍺類功能材料

導(dǎo)電玻璃(ito)材料

柔性透明導(dǎo)電薄膜

其它導(dǎo)電材料等


四、高溫四探針測(cè)試儀功能特點(diǎn)

多功能真空加熱爐,一體爐膛設(shè)計(jì)、可實(shí)現(xiàn)、高溫、真空、氣氛環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試

采用鉑材料作為導(dǎo)線、以減少信號(hào)衰減、提高測(cè)試精度,

可以測(cè)量半導(dǎo)體薄膜材、薄片材料的方塊電阻、電阻率;

可實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的1-V、R-T、R-t等測(cè)量功能;

溫度傳感器、PID自動(dòng)溫度控制,使測(cè)量溫度更精準(zhǔn);

儀器可自動(dòng)計(jì)算試樣的電阻率pV;

10寸觸摸屏設(shè)計(jì),一體化設(shè)計(jì)機(jī)械結(jié)構(gòu),穩(wěn)定、可靠;

程控電子升壓技術(shù),紋波低、TVS防護(hù)系統(tǒng),保證儀器an全性;

99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針;

Ihuace pro強(qiáng)大的控制分析軟件。


    整體為桌面型設(shè)計(jì),采用紅外燈加熱,無(wú)保溫爐膛結(jié)構(gòu),滿足實(shí)驗(yàn)室無(wú)灰塵排放的要求。
    內(nèi)置工控機(jī)、觸摸屏,可以利用工控機(jī)設(shè)定加熱曲線,并實(shí)現(xiàn)和其他測(cè)試設(shè)備的集成控制。
    定點(diǎn)控溫模式下,可以將樣品10s內(nèi)加熱到1000攝氏度。
    控溫加熱下,可以5度/s速率下線性加熱到1000攝氏度。
    在1000度下可以連續(xù)工作時(shí)間不低于1小時(shí)。
    采用鉑熱電偶直接測(cè)定樣品附近溫度。
    樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環(huán)境下加熱。
    配備真空泵,水冷設(shè)備,配備超溫、缺水、過(guò)流等報(bào)警保護(hù)裝置。
    溫度均勻區(qū):60mm*100mm。

硬件配置

集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ雙核處理器

集成打機(jī)印接口,zui大可擴(kuò)充8個(gè)USB接口

zui大支持16G內(nèi)存,60G固態(tài)硬盤(pán),讓系統(tǒng)運(yùn)行流暢


軟件功能

Hc5000系列測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)hacepro,采用labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā),符合高分子材料性能的各項(xiàng)測(cè)試需求,具備強(qiáng)大的的穩(wěn)定性與an全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料可保存恢復(fù)。兼容,XP、win7、win10系統(tǒng)。

多語(yǔ)介面:支持中文/英文 兩種語(yǔ)言界面;

即時(shí)監(jiān)控:系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽,無(wú)須等待;

圖例管理:通過(guò)軟件中的狀態(tài)圖示,立即對(duì)狀態(tài)說(shuō)明,了解測(cè)試狀態(tài);

使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,方便管理;

故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。


技術(shù)指標(biāo)

溫度范圍:室溫-1200℃,(反射爐加溫)配水冷機(jī));

控溫精度:±0.5℃;

測(cè)量精度:±0.25℃;

升溫斜率:800℃/min(zui快可10秒達(dá)800度);

降溫斜率:1-200℃/min(可自調(diào)整);

測(cè)量精度:0.5%;

樣品規(guī)格:直徑:20mm以內(nèi);厚度:5mm以內(nèi);

電極材料:鉑金;

測(cè)量方式:2線-4線測(cè)量方式;

供電:220V±10%,50Hz;

工作環(huán)境:0℃-55℃;

存儲(chǔ)條件:-40℃-70℃;

尺寸:750mmX660mmX360mm;

重量:25kg


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